汎銓再出手 取得矽光子紅外光感測收光核心專利

汎銓（6830）向光焱提起侵犯矽光子光損偵測設備專利，引發雙方新舊技術爭戰，汎銓今日再以技術架構解析圖，解析其取得台日和美國三地的核心在於「IR OM + IR影像感測器」的裝置組合專利，為唯一可用於偵測矽光子波段(1310奈米與1550奈米)的關鍵技術配置，只要相關設備中具備此一裝置，即落入汎銓專利保護範圍，就侵犯汎銓專利，並不因是否搭配其他硬體、軟體或技術世代差異而有所影響。

熟悉專利法的人士表示，經調閱汎銓取得的中華民國第 I870008B號「光損偵測裝置」發明專利，偵測光束波長並不僅限1310與1550奈米波段，是在100奈米至6000奈米之間，涵蓋範圍比汎銓董事長柳紀綸在日前專利侵權說明記者會波段還大，汎銓只挑出1310及1550奈米段，也只是刻意釋出這兩項波段正是與汎銓密切合作開發矽光子光引擎的晶圓代工廠及AI晶片龍頭所採用的光譜，這也是各家未來想分食矽光子檢測商機的最大一塊餅，但其實汎銓取得的專利，其他業者想繞道切入這塊領域，難度極高。

柳紀綸今日秀出矽光技術架構解析圖，主要回應光焱提出的回擊論點是混淆視聽、模糊焦點。他說，汎銓取得的專利證號中，很明確說明取得專利的工法及應用，如果有心人要按圖組裝，也能組裝出同樣的檢測設備，但汎銓的原則，只要踩到公司的專利，汎銓一定提告，汎銓如今也已採取行動，而未來若有其他公司也用同樣的收光模組踩進來，即使對方的公司再大，也一定告。

柳紀綸鄭重強調，汎銓所擁有之中華民國第 I870008B號「光損偵測裝置」發明專利，也已取得日本及美國發明專利，其核心在於「IR OM + IR影像感測器」的裝置組合，為唯一可用於偵測矽光子波段(1310奈米與1550奈米)的關鍵技術配置。他也秀出目前與另一同業爭議點的技術分析圖，說明依據汎銓對專利範圍的主張，只要相關設備中具備此一裝置組合(如附圖紅框所示)，即已落入專利保護範圍，並不因是否搭配其他硬體、軟體或技術世代差異而有所影響。

他強調，針對網路掀起相關技術與法律爭議點，後續仍將回歸司法程序進行釐清，但呼籲光焱積極誠實態度面對司法程序。